• null
    Halbleiterätzmittel
  • TiW-Ätzmittel
  • · E/R : 400~500A/min(at 30 ℃ )
  • · Under-cut : 1um unten(150% over etch)
  • · Materials : Al, Cu damage free
  • null
    Teilereinigung (Nichtmetall)
  • Dichtungsreinigung
  • · Application : LCD-Prozessspritze / Halterung / Düse
  • · Verbesserte Reinigungskraft im Vergleich zu Aceton
  • · Materials : SUS, PE, PP, PTFE damage free
  • null
    Teilereinigung (Metall)
  • AI/Plasma-Brandreinigung
  • · Application : Halbleiter ceramic parts
  • · Materials : SUS,Ceramic, PVC, PE, PP, PTFE damage free
  • null
    Solder remover
  • Solder remover_wafer
  • · E/R : 12~15um/min(at 40℃)
  • Solder remover_DRAM
  • · E/R : 5~7um/min(at 25℃)
  • · IMC damage free(Kein Cu-Schutz)
  • null
    Invar Mask Total solution
Unterteilung Verwendung Medikamentenname Notiz
Maskenherstellung Sliming&Patterning CS-313IA
Laser Pattern Cleaning CS-302MC, CS-303MC
PR Cleaning CS-550
Organischer Abscheidungsfilm&Erstreinigung Organischer Abscheidungsfilm&Fluoreszierende Rückstände NMP&CS-700T
Bearbeitungsöl und elektrolytische Reinigung CS-701AC
Anorganischer Abscheidungsfilm Waffenreinigung (AgMg) CS-100SE
Waffenreiniger (LiF) CS-701AC

MASKENHERSTELLUNG NACH PROZESS

  • · Sliming & Patterning
    CS-313A
  • · Laser Pattern Cleaning
    CS-302MC, 303MC
  • · PR Cleaning
    CS-550

2. Organischer Ablagerungsfilm und Erstreinigung durch Verfahren

  • · Organischer Ablagerungsfilm und fluoreszierender Rückstand
    NMP & CS-700T
  • · Bearbeitungsöl und elektrolytische Reinigung
    CS-701AC

3. Reinigung des anorganischen Abscheidungsfilms

  • · Waffenreinigung (AgMg)
    CS-100SE
  • · Waffenreinigung (LiF)
    CS-701AC

Sie können die gesamte Palette der CSP-Entwicklungsprodukte sehen.